HST301-EW कम्प्यूटरीकृत अपराइट मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप

HST301-EW कंप्यूटर ईमानदार मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप ग्राहकों को उत्कृष्ट इमेजिंग प्रणाली और आरामदायक के साथ लागत प्रभावी मेटलोग्राफिक विश्लेषण और औद्योगिक निरीक्षण समाधान प्रदान करता है।

मानकों:

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उत्पाद अवलोकन:

HST301-EW कंप्यूटर अपराइट मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप ग्राहकों को उत्कृष्ट इमेजिंग सिस्टम और आरामदायक संचालन अनुभव के साथ लागत प्रभावी मेटलोग्राफिक विश्लेषण और औद्योगिक निरीक्षण समाधान प्रदान करता है। संरचना नवजात शिशु के बिस्तर के सर्वोत्तम आरामदायक कोण के साथ अवलोकन ट्यूब को अपनाती है, जो लंबे समय तक काम करने की स्थिति में उपयोगकर्ताओं के तनाव और थकान को दूर कर सकती है और सर्वोत्तम अवलोकन स्थिति सुनिश्चित कर सकती है। अवलोकन ट्यूब पर स्केल उपयोगकर्ताओं के लिए इष्टतम पुतली दूरी सीमा को स्वयं समायोजित करने के लिए सुविधाजनक है।

HST301-EW कंप्यूटर अपराइट मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप एक स्थिर माइक्रोस्कोप होस्ट, एक हाई-डेफिनिशन कैमरा डिवाइस और वास्तविक मेटलोग्राफिक छवि विश्लेषण सॉफ्टवेयर को एकीकृत करता है, जो उपयोगकर्ताओं को कुशल मेटलोग्राफिक संरचना का पता लगाने और विश्लेषण समाधानों की पूरी श्रृंखला प्रदान कर सकता है।

इस माइक्रोस्कोप का व्यापक रूप से धातु सामग्री के मेटलोग्राफिक संरचना विश्लेषण (पर्लाइट, गोलाकारीकरण दर, अनाज का आकार, ग्रेफाइट आकृति विज्ञान, आदि सहित), शिक्षण और वैज्ञानिक अनुसंधान के मेटलोग्राफिक विश्लेषण, सटीक इंजीनियरिंग माप और अन्य क्षेत्रों में उपयोग किया जाता है। यह सामग्री विज्ञान, धातुकर्म इंजीनियरिंग, मशीनरी विनिर्माण और अन्य उद्योगों में एक अनिवार्य और महत्वपूर्ण उपकरण है।

चमक स्मृति समारोह

ब्राइटनेस मेमोरी फ़ंक्शन प्रत्येक ऑब्जेक्टिव लेंस का उपयोग करते समय प्रकाश की चमक को याद रख सकता है, और विभिन्न ऑब्जेक्टिव लेंस स्विच करने पर स्वचालित रूप से प्रकाश की तीव्रता को समायोजित कर सकता है।

सेमी-एपोक्रोमैटिक ब्राइटफ़ील्ड उद्देश्यों की सभी श्रृंखलाएँ

उद्देश्य वास्तव में नमूने के प्राकृतिक रंग को बहाल करने के लिए उच्च-संचारण लेंस और उन्नत कोटिंग तकनीक का उपयोग करते हैं। सेमी-एपोक्रोमैटिक डिज़ाइन में उत्कृष्ट रंगीन विपथन सुधार प्रदर्शन है, जो देखी गई छवि के कंट्रास्ट और स्पष्टता में सुधार करता है।

हाई डेफिनिशन सोनी चिप कैमरा

यह कैमरा सोनी सीएमओएस सेंसर के साथ एक सी-माउंट सीएमओएस कैमरा है, जो उच्च गुणवत्ता वाले ब्राइटफील्ड, डार्कफील्ड, ध्रुवीकृत, कम रोशनी और प्रतिदीप्ति लाइटफील्ड माइक्रोस्कोपी इमेजिंग के लिए एक आदर्श मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप कैमरा है, जो सामग्री विज्ञान अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त है।

छवि सिलाई

छवि माप सॉफ्टवेयर को मंच को हिलाकर महसूस किया जा सकता है। मैन्युअल छवि सिलाई की प्रक्रिया बड़े क्षेत्र के दृश्य के साथ एक स्पष्ट छवि प्राप्त करने के लिए विभिन्न आवर्धन के छवि सिलाई फ़ंक्शन का एहसास कर सकती है।

फ़ील्ड फ़्यूज़न की वास्तविक समय गहराई

छवि माप सॉफ़्टवेयर में फ़ील्ड संश्लेषण फ़ंक्शन की गहराई आपको फ़ील्ड बिंदुओं की विभिन्न गहराई को ठीक करने के लिए माइक्रोस्कोप को घुमाने की अनुमति देती है, जबकि कैमरा वास्तविक समय में सूक्ष्म छवि के क्षेत्र की गहराई का तुरंत विस्तार करता है। पूरे फ़्रेम का विवरण एक नज़र में स्पष्ट है, और आप फिर कभी धुंधली छवियां नहीं देखेंगे!

तकनीकी पैरामीटर

नाम

विशिष्टता

ऑप्टिकल प्रणाली

अनंत रंगीन विपथन को ठीक किया गया ऑप्टिकल सिस्टम

अवलोकन ट्यूब

30° झुकाव, अनंत टिका हुआ तीन-तरफा अवलोकन ट्यूब, पुतली दूरी समायोजन: 50 मिमी ~ 75 मिमी, सिंगल-साइड डायोप्टर समायोजन: -2/+8 डायोप्टर, दो-गति विभाजन अनुपात आर: टी = 100: 0 या 50:50

नेत्रिका

उच्च नेत्र बिंदु और देखने का विस्तृत क्षेत्र, सपाट क्षेत्र ऐपिस SWH10X/23mm (डायोप्टर समायोज्य)

उद्देश्य

फ्लैट फील्ड सेमी-कंपाउंड मेटलोग्राफिक ब्राइट फील्ड ऑब्जेक्टिव 5X/NA0.15 WD15

समतल क्षेत्र अर्ध-यौगिक मेटलोग्राफिक उज्ज्वल क्षेत्र उद्देश्य 10X/NA0.30 WD8.4

फ्लैट फील्ड सेमी-कंपाउंड मेटलोग्राफिक ब्राइट फील्ड ऑब्जेक्टिव 20X/NA0.45 WD3.0

फ्लैट फील्ड सेमी-कंपाउंड मेटलोग्राफिक ब्राइट फील्ड ऑब्जेक्टिव 50X/NA0.75 WD3.0

फ्लैट फील्ड सेमी-कंपाउंड मेटलोग्राफिक ब्राइट फील्ड ऑब्जेक्टिव 100X/NA0.90 WD1.0(वैकल्पिक)

ऑब्जेक्टिव लेंस कनवर्टर

उच्च परिशुद्धता आंतरिक स्थिति 5-छेद उज्ज्वल क्षेत्र कनवर्टर, चमक मेमोरी फ़ंक्शन।

फोकसिंग तंत्र

लो-हैंड पोजीशन मोटे और महीन समाक्षीय फोकसिंग तंत्र, मोटे समायोजन स्ट्रोक 30 मिमी,ठीक समायोजन सटीकता 0.001 मिमी. फिसलन और यादृच्छिक ऊपरी सीमा डिवाइस को रोकने के लिए समायोजन तनाव डिवाइस के साथ। प्लेटफ़ॉर्म स्थिति ऊपर और नीचे समायोजन तंत्र के साथ, अधिकतम नमूना ऊंचाई 40 मिमी।

मंच

डबल-लेयर मैकेनिकल मूविंग प्लेटफॉर्म, लो-हैंड पोजीशन एक्स, वाई दिशा समाक्षीय समायोजन; प्लेटफ़ॉर्म क्षेत्र 240X175 मिमी, कार्य सतह: 135X125 मिमी, चलती सीमा: 75 मिमीX50 मिमी, प्रतिबिंब के लिए धातु मंच से सुसज्जित किया जा सकता है।

प्रतिबिंबित रोशनी प्रणाली

अनुकूली विस्तृत वोल्टेज 100V-240V_AC50/60Hz, परावर्तक लैंप कक्ष, एकल उच्च-शक्ति 10WLED, गर्म रंग, कोहलर रोशनी, फ़ील्ड डायाफ्राम और एपर्चर डायाफ्राम के साथ, केंद्र समायोज्य,

ध्रुवीकरण घटक

विश्लेषक, ध्रुवीकरणकर्ता।

अन्य सामान

फोटोग्राफिक सहायक उपकरण: 0.5X सी-माउंट, समायोज्य फोकस;

सोनी चिप FEG 12-मेगापिक्सल कैमरा, कंप्यूटर इमेजिंग सिस्टम FCL-RS

FMIA2025 मेटलोग्राफिक छवि विश्लेषण सॉफ्टवेयर, उच्च परिशुद्धता माइक्रोमीटर (ग्रिड मान 0.01 मिमी)

कंप्यूटर

ब्रांडेड बिजनेस कंप्यूटर(वैकल्पिक)

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