HST-HVS5/10/30/50ZTC टच स्क्रीन डिस्प्ले लोड सेल के साथ स्वचालित बुर्ज विकर्स कठोरता परीक्षक

एआवेदन:

1. स्टील, अलौह धातुएं, टिनसेल, सीमेंटेड कार्बाइड, शीट मेटल, मेटलोग्राफिक संरचना।

2. कार्बराइजेशन, नाइट्राइडिंग और डीकार्बराइजेशन परत, सतह सख्त परत, गैल्वेनाइज्ड कोटिंग, कोटिंग।

3. ग्लास, चिप और सिरेमिक सामग्री।

एफभोजन:

1. वरिष्ठ ऑप्टिकल इंजीनियरों द्वारा डिजाइन किए गए ऑप्टिकल सिस्टम में न केवल स्पष्ट छवियां हैं, बल्कि इसे समायोज्य चमक और आरामदायक दृष्टि के साथ एक साधारण माइक्रोस्कोप के रूप में भी इस्तेमाल किया जा सकता है।

2. कास्ट एल्यूमीनियम शेल मोल्डिंग, संरचना स्थिर है और विकृत नहीं है, उच्च ग्रेड ऑटोमोटिव पेंट, खरोंच-रोधी क्षमता, कई वर्षों तक उपयोग अभी भी नए जैसा उज्ज्वल है;

3. 7 इंच की टच स्क्रीन परीक्षण विधि, परीक्षण बल, कठोरता मूल्य की ऊपरी और निचली सीमाएं, मापी गई इंडेंटेशन लंबाई, कठोरता मूल्य, परीक्षण बल प्रतिधारण समय, माप समय प्रदर्शित कर सकती है और वर्ष, माह, तिथि, परीक्षण परिणाम और डेटा प्रोसेसिंग प्रतीक्षा कर सकती है।

4. मापी गई लंबाई सीधे कठोरता मान की पुष्टि कर सकती है;

5. ऑप्टिकल सिस्टम चमक की समायोज्य रेंज: 0-100;

6.सीएकसहेजें100 परीक्षण डेटा सेट करता है, और मुख्य इंटरफ़ेस पर औसत मूल्य और परीक्षण समय डेटा प्रदर्शित करता है;

7.टीपारस्परिक रूपांतरण के लिए अनुमानित बल इकाई को मैन्युअल रूप से चुना जा सकता है, रूपांतरण इकाई है: (केजीएफ, एन)

8.एमएक इंटरफ़ेस एक ही समय में 4 रूपांतरण स्केल प्रदर्शित कर सकता है, कुल 18 स्केल परिवर्तित किए जा सकते हैं: एचआरए, एचआरबी, एचआरसी, एचआरडी, एचआरई, एचआरएफ, एचआरजी, एचआरएच, एचआरके, एचआर15एन, एचआर30एन, एचआर45एन, एचआर15टी, एचआर30टी, एचआर45टी, एचवी, एचके, एचबीडब्ल्यू;

9. दोनों ऑब्जेक्टिव लेंस सीधे कठोरता को माप सकते हैं

10. विकर्ण लंबाई मेमोरी फ़ंक्शन के साथ, विकर्ण लंबाई को बंद करने के बाद स्वचालित रूप से याद किया जाएगा, और इसे शुरू करने के बाद सीधे मापा जाएगा, इसे दो बार रीसेट करने की आवश्यकता नहीं है।

11. मापने के पैमाने को एचके नूप कठोरता में परिवर्तित किया जा सकता है;

12. परीक्षण डेटा सीधे USB के माध्यम से निर्यात किया जा सकता है

13.यूपीपर और निचली सीमापरीक्षणरेंज को मुख्य माप इंटरफ़ेस पर सेट और प्रदर्शित किया जा सकता है

14.बीयूआईएलटी-इन प्रिंटर, परीक्षण डेटा को भंडारण और विश्लेषण के लिए यूएसबी के माध्यम से यू डिस्क पर भी आउटपुट किया जा सकता है;

15.टीअवलोकन-परीक्षण-माप का स्थिति स्विच स्वचालित बुर्ज द्वारा पूरा किया जाता है

तकनीकी पैरामीटरएस: